专利名称：一种基于ICP-AES和IEC光谱校正法测定镍基合金
中磷含量的方法
专利类型：发明专利发明人：张亮亮,吴锐红申请号：CN201910615494.7申请日：20190709公开号：CN110376185A公开日：20191025
摘要：本发明公开了一种基于ICP‑AES和IEC光谱校正法测定镍基合金中磷含量的方法，具体包括采用体积比为5:1的优级纯盐酸和优级纯硝酸快速溶解镍基合金样品，在设定测定设备参数的条件下，选用受共存元素干扰类别较少的两条谱线177.495nm和178.284nm作为磷元素的分析谱线，通过建立干扰系数法IEC模型以消除共存元素对磷的光谱干扰，实现了ICP‑AES准确、快速测定镍基合金中的磷元素。本发明测定结果的正确度和精密度满足实验要求，运算简便、易于操作，能很好的满足日常生产检测需求。
申请人：中航金属材料理化检测科技有限公司
地址：710018 陕西省西安市经济技术开发区凤城十二路1号凯瑞A座10层
国籍：CN
代理机构：西安弘理专利事务所
代理人：王蕊转
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