专利名称：光学材料的缺陷和光致损伤的检测装置专利类型：发明专利
发明人：张海波,袁志军,周军,楼祺洪,魏运荣,何兵,漆云凤,杜
松涛
申请号：CN201210174949.4申请日：20120531公开号：CN102680447A公开日：20120919
摘要：一种光学材料的缺陷和光致损伤的检测装置，由激光器、聚焦透镜、待测光学样品、载物台、成像透镜、光纤、光栅光谱仪和计算机组成。通过探测和分析激光辐照待测光学样品产生的荧光光谱信息，不仅可分析判定不同类型的光学材料在特定工作波长下的光学透明性；而且可分析和判断待测样品的光致损伤情况。本发明可实现对特定激光波长适用的光学材料的甄选和对材料因强激光辐照引起的光致损伤的在线检测。
申请人：中国科学院上海光学精密机械研究所
地址：201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱
国籍：CN
代理机构：上海新天专利代理有限公司
代理人：张泽纯
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