专利名称：嵌入式系统的测试装置及测试方法专利类型：发明专利发明人：陈志强,韩富荣申请号：CN03147351.2申请日：20030710公开号：CN1567232A公开日：20050119
摘要：本发明公开了一种嵌入式系统的测试装置及测试方法，使得在对嵌入式系统进行测试时，不需要源代码，也不需要终止系统的运行；同时能够简化测试函数的设计和实现工作。本发明的嵌入式系统的测试装置包含源代码生成器，用于根据外部输入的补丁函数的源代码生成补丁源代码；编译器，用于将所述源代码生成器输出的补丁源代码编译为补丁目标代码；下载器，用于将所述编译器输出的补丁目标代码下载到被测的嵌入式系统中，并控制所述嵌入式系统执行补丁目标代码产生测试函数并进行测试。
申请人：华为技术有限公司
地址：518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
国籍：CN
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