专利名称：用于检测芯片温度变化的器件专利类型：发明专利发明人：克里斯蒂安·里弗罗申请号：CN201010504538.8申请日：20101008公开号：CN102042882A公开日：20110504
摘要：一种用来检测集成电路芯片衬底温度变化的器件，其包括，在衬底中用注入电阻连接成的惠特斯通桥，其中该桥中两个第一相对的电阻各由与第一方向平行的金属线阵列所覆盖，该第一方向定义为，衬底应力沿此方向的变化会导致桥中不平衡值的变化。
申请人：意法半导体(胡希)公司
地址：法国胡希
国籍：FR
代理机构：北京安信方达知识产权代理有限公司
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